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SJ1 三维微晶片检测调整装置
升降部分采用手动粗微调结合,升降操作方便。
前端装有环形灯,用于工作台面照明。
工作载物台用于安放被检测物体并且进行精密二维对准。
使用方便,调节精度高,广泛用于实验室、检验检测等场合。
SJ1 三维微晶片检测调整装置
该装置用于调整、检测微晶片或者其他微小物体,装置主体的升降部分采用粗微调结合的手动调节机构,升降操作方便。前端装有环形灯,用于给下方的工作台面照明。下方是二维手动调节的工作载物台,用于安放被检测物体并且进行精密二维对准。整套装置使用方便,调节精度高,可以广泛用于实验室、检验检测等场合。